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Dr.-Ing. Sören Kammel

Ehemaliger wissenschaftlicher Mitarbeiter
Institut für Mess- und Regelungstechnik
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Engler-Bunte-Ring 21
Gebäude: 40.32
76131 Karlsruhe

Veröffentlichungen

Moritz Werling, Sören Kammel, Julius Ziegler, Lutz Gröll. Optimal trajectories for time-critical street scenarios using discretized terminal manifolds. The International Journal of Robotics Research, 31(3):346-359, March 2012. [ http ]

M. Werling, J. Ziegler, S. Kammel, S. Thrun. Optimal Trajectory Generation for Dynamic Street Scenarios in a Frenet Frame. May 2010.

Christoph Stiller, Sören Kammel, Irina Lulcheva, Julius Ziegler. Probabilistische Methoden in der Umfeldwahrnehmung Kognitiver Automobile. at - Automatisierungstechnik, 56(11):563 - 574, November 2008. [ .pdf ]

Sören Kammel, Julius Ziegler, Benjamin Pitzer, Moritz Werling, Tobias Gindele, Daniel Jagzent, Joachim Schröder, Michael Thuy, Matthias Goebl, Felix von Hundelshausen, Oliver Pink, Christian Frese, Christoph Stiller. Team AnnieWAY's autonomous system for the 2007 DARPA Urban Challenge. 25(9):615 - 639, September 2008. [ .pdf ]

Christoph Stiller, Sören Kammel. Zur Interpretation der Verkehrsszenen für städtische Fahrzeugführung. In Proc. 9. Braunschw. Symp. Automatisierungs-, Assistenzsysteme und eingebettete Systeme für Transportmittel, Seiten 151-164, Braunschweig, February 2008.

Christoph Stiller, Sören Kammel, Benjamin Pitzer, Julius Ziegler, Moritz Werling, Tobias Gindele, Daniel Jagszent. Team AnnieWAY's Autonomous System. In Gerald Sommer, Reinhard Klette, Herausgeber, Robot Vision, Lecture Notes in Computer Science 4931, Springer Berlin, Heidelberg, Seiten 248-259, Auckland, New Zealand, February 2008.

C. Stiller, G. Färber, S. Kammel. Cooperative Cognitive Automobiles. In Proc. IEEE Intelligent Vehicles Symposium, Seiten 215-220, Istanbul, Turkey, June 2007. [ .pdf ]

C. Stiller, S. Kammel, T. Dang, C. Duchow, B. Hummel. GPS- und Kamera-basierte Fahrzeugführung durchs Gelände - ION im Grand Challenge. at - Automatisierungstechnik, 55(6):290-297, June 2007.

Thao Dang, Sören Kammel, Christian Duchow, Britta Hummel, Christoph Stiller. Path Planning for Autonomous Driving Based on Stereoscopic and Monoscopic Vision Cues. In Proceedings of the IEEE International Conference on Multisensor Fusion and Integration for Intelligent Systems, September 2006.

Christoph Stiller, Sören Kammel, Thao Dang, Christian Duchow, Britta Hummel. Das Autonome Landfahrzeug ION im Grand Challenge. In Proceedings of AUTOREG - Steuerung und Regelung von Fahrzeugen und Motoren, VDI-Berichte 1931, Seiten 75-88, Wiesloch, March 2006.

Christian Duchow, Christoph Stiller, Sören Kammel, Thao Dang, Britta Hummel. Optimale Pfadplanung aus fusionierten Videomerkmalen. In Workshop Fahrerassistenzsysteme FAS2006, 2006.

Jan Horn, Sören Kammel. Bildbasierte zweidimensionale Geschwindigkeitsmessung von Kraftfahrzeugen über Grund. In Tagungsband Sensoren und Messsysteme, 2006.

Britta Hummel, Sören Kammel, Thao Dang, Christian Duchow, Christoph Stiller. Vision-based path-planning in unstructured environments. In Proceedings of the IEEE Intelligent Vehicles Symposium, Seiten 176-181, 2006. [ .pdf ]

Jan W. Horbach, Sören Kammel. Deflectometric inspection of diffuse surfaces in the far-infrared spectrum. In J.R. Price, F. Meriaudeau, Herausgeber, Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII, Band 5679, Seiten 108-117, 2005.

Sören Kammel. Deflektometrische Untersuchung spiegelnd reflektierender Freiformflächen. Dissertation, Universität Karlsruhe (TH), Karlsruhe, 2005. Schriftenreihe Institut für Mess- und Regelungstechnik, Universitätsverlag Karlsruhe, Nr. 004. [ http ]

Sören Kammel, Jan Horbach. Topography reconstruction of specular surfaces. In J.A. Beraldin, S.F. El-Hakim, A. Gruen, J.S. Walton, Herausgeber, Videometrics VIII, Band Proc. SPIE Vol. 5665, Seiten 59-66, 2005.

Sören Kammel, Fernando Puente León. Deflectometric Measurement of Specular Surfaces. In IEEE Proc. on Instrumentation and Measurement 2005, Band 5360, Seiten 108-117, 2005.

Christoph Stiller, Sören Kammel, Jan Horn, Thao Dang. Digital Image Processing: Compression and Analysis, Kapitel The Computation of Motion, Seiten 73-108. CRC Press, September 2004.

Binjian Xin, Michael Heizmann, Sören Kammel, Christoph Stiller. Bildfolgenauswertung zur Inspektion geschliffener Oberflächen. tm - Technisches Messen, 71(4):218-226, April 2004.

Sören Kammel. Defekterkennung auf stark gekrümmten spiegelnden Oberflächen. In Sensoren und Messsysteme 2004, Band VDI-Berichte 1829, Seiten 673-679, 2004.

Sören Kammel. Deflektometrie zur Qualitätsprüfung spiegelnd reflektierender Oberflächen. tm - Technisches Messen, 70(4):193-198, 2003.

Sören Kammel, Fernando Puente León. Head-mounted display for interactive inspection of painted free-form surfaces. In Helmet- and Head-Mounted Displays VIII: Technologies and Applications, Band Proc. SPIE Vol. 5079, Seiten 254-264, 2003.

Sören Kammel, Fernando Puente León. Verfahren und Vorrichtung zur Analyse reflektierender Oberflächen. Anmeldung Nr. 103 17 078.2 zum deutschen Patent, 2003.

Fernando Puente León, Sören Kammel. Image fusion techniques for robust inspection of specular surfaces. In Multisensor, Multisource Information Fusion: Architectures, Algorithms, and Applications 2003, Band Proc. SPIE Vol. 5099, Seiten 77-86, 2003.

Fernando Puente León, Sören Kammel. Lokale Detektion von Defekten an spiegelnden und lackierten Oberflächen. In Oberflächenmesstechnik 2003, Band VDI-Berichte 1806, 2003.

Sören Kammel. Lokale Detektion von Defekten an spiegelnden und lackierten Oberflächen. In XVI. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V., 2002.

Sören Kammel. Automated optimization of measurement setups for the inspection of specular surfaces. In Machine Vision and Three-Dimensional Imaging Systems for Inspection and Metrology II, Band Proc. SPIE Vol. 4567, Seiten 199-206, 2001.

Sören Kammel. Topography reconstruction of specular surfaces from a series of gray-scale images. In Machine Vision and Three-Dimensional Imaging Systems for Inspection and Metrology, Band Proc. SPIE Vol. 4189, Seiten 136-144, 2000.